ФІЗИКО-МЕХАНІЧНИЙ ІНСТИТУТ ІМ. Г. В. КАРПЕНКА НАН УКРАЇНИ

Центр колективного користування науковими приладами (ЦККНП)

“Центр електронної мікроскопії та рентгенівського мікроаналізу”

Центр колективного користування науковими приладами (ЦККНП) "Центр електронної мікроскопії та рентгенівського мікроаналізу" НАН України створено у вересні 2007 року на базі відділу Фізико-хімічних методів зміцнення матеріалів Фізико-механічного інституту НАН України з метою раціонального використання сучасного наукового обладнання виробництва фірм Carl Zeiss (Німеччина) та Oxford Instruments (Англія).

Головними завданнями Центру є:

надання вченим НАН України можливості проведення досліджень на сучасному скануючому електронному мікроскопі EVO-40XVP із системою мікроаналізу INCA Energy 350;
надання консультативних послуг щодо проведення досліджень на обладнанні Центру, сучасних методів електронної мікроскопії і рентгенівського мікроаналізу та підготовки зразків;
підготовка спеціалістів, стажування студентів і наукових працівників НАН України на обладнанні Центру;
технічне забезпечення роботи обладнання Центру.

Наказом директора ФМІ ім. Г.В.Карпенка НАН України керівником ЦККНП "Центр електронної мікроскопії та рентгенівського мікроаналізу" член-кор. НАН України, д.т.н., проф. В.І.Похмурський.

Опис обладнання Центру

«Центр електронної мікроскопії та рентгенівського мікроаналізу» пропонує для колективного використання скануючий електронний мікроскоп EVO 40XVP із системою мікроаналізу INCA Energy в складі:

Базового блоку EVO 40XVP із можливістю роботи у режимах високого вакууму, низького вакууму та наднизького вакууму в комплекті з:

повністю безмасляною системою відкачки вакууму на базі форвакуумної помпи та турбомолекулярної помпи високої продуктивності без масляних ущільнень і підшипників. Швидкість відкачки камери на стандартному зразку – 3 хвилини;
електронно-оптичною колоною для вольфрамового катоду;
детекторами: вторинних електронів Эвернхарта-Торнлі (SE); 4-ох сегментним детектором відбитих електронів (BSD) з кріпленням на полюсному наконечнику (не потребує настройки та юстировки, не скорочує робочу відстань мікроскопу і постійно готовий до роботи, не займає окремого порту в камері мікроскопу); вторинних електронів для низького вакууму (VPSE); детектором поглинутого струму; інфрачервоною камерою для спостереженням за положенням зразка у камері мікроскопу;
робочою камерою розміром 365х220 мм;
столиком із повною моторизацією по 5-ти осях з точністю переміщення і повторюваністю позиції 1,5 мкм;
програмним забезпеченням SmartSEM;
комп’ютером.

Енергодисперсійного рентгенівського спектрометру INCA ENERGY 350 в комплекті з:

літієвим детектором площею 10 мм?, що забезпечує роздільну здатність 133 эВ, чутливість визначення домішки 0,01%, локальність аналізу від 1 мкм на стандартних взірцях та до 0,1 мкм на плівках;
дюаром на 7,5 літра для охолождення детектора рідким азотом;
мікроаналітичним процесорм INCA X-stream;
системою захоплення відеозображення Microscope Image Capture System (MICS);
комп’ютером;
програмним забезпеченням Inca Energy з
- опцією якісного аналізу в діапазоні від берилію до плутонію;
- опцією кількісного аналізу в діапазоні від бору до плутонію;
- автоматичним маркуванням піків;
- автоматичним та ручним масштабуванням спектрів;
- шести режимами отримання спектрів;
- реконструкцією спектрів;
- порівнянням спектрів.