Page 114 - НАЦІОНАЛЬНА АКАДЕМІЯ НАУК УКРАЇНИ
P. 114

114

                  ження  дає  змогу  вивчати  статистичний  розподіл  опору  різних  локальних

                  мікро  об’ємів  матеріалу  такому  контактному  деформуванню,  використо-

                  вуючи  для  цього  методи  теорії  випадкових  процесів.  Це  дає  можливість

                  оцінювати  комплекс  показників  різних  ділянок  поверхневих  шарів  вздовж

                  шляху їх сканування і, зокрема, визначати:

                      – усереднене значення їх міцності на всьому шляху сканування;

                      – розкид і неоднорідність розподілу характеристик міцності;

                      – моделювати елементарні акти мікро різання чи мікро проковзування під

               час притирання, тертя чи зносу.

                      Графічна інтерпретація топографії поверхні дає уявлення про можливості

               методу сканування (рис. 2.19).

                                                                                            На шляху пере-

                                                                                       міщення  індентора

                                                                                       вздовж  досліджува-

                                                                                       ної поверхні трапля-

                                                                                       ються  тверді  (але

                                                                                       дрібні  L2)  та  м'які

                                                                                       (але великі L1) фраг-


                      Рисунок       2.19     –    Ілюстрація       особливостей        менти.  Тому,  після

               визначення властивостей поверхневих шарів шляхом їх                     оброблення  трибог-

               сканування  скретч-методом:  D  –  розкид  даних  за                    рами       (залежності

               твердістю;  m  –  середнє  значення  твердості;  L  –  розмір           глибини       втілення

               фрагментів з відповідною твердістю.                                     індентора  в  аналі-
                                                                                       зований  поверхне-

               вий шар в часі випробувань t), яка відтворює випадковий процес вертикального

               переміщення  індентора  на  різних  за  твердістю  ділянках,  і  побудови  графіка

               його спектральної густини, можна отримати профіль аналізованої поверхні за її


               міцністю.  Спектральна  щільність  переміщень  індентора  дає  змогу  оцінити
               розміри, кількість  і  міцність  фрагментів з різною  твердістю  на  всьому  шляху


               його переміщення по зміцненій поверхні.
   109   110   111   112   113   114   115   116   117   118   119