Page 92 - Докторська дисертація_Ткачук

92

(рис. 2.10 а) і ДРОН-3.0 (рис. 2.10 б) у CоK і CuK-випромінюваннях,

відповідно. У першому випадку напруга на аноді рентгенівської трубки

складала 40 кВ при струмі 45 мА, а у другому – 30 кВ при струмі 20 мА.

Фокусування рентгенівської трубки за схемою Брегга–Брентано. Сканували з

кроком 0.05. Крок часу лічення становив 5 с. Використовували пакети

програмного забезпечення Sietronix, Powder Cell 2.4 і FullProf, за допомогою

яких проводили Фур’є-обробку дифрактограм, визначали положення

дифракційних максимумів відбиття, та періоди ґраток, ідентифікованих згідно

даних картотеки JCPDS – ASTM фаз.

а б

Рисунок 2.10 – Дифрактометри D8 Bruker Discover (а) і ДРОН-3.0 (б).

Вміст фазу у поверхневому шарі, розмір кристалітів і напруження в

кристалічній ґратці фаз визначали за рентгенівськими дифрактограмами

повнопрофільним методом Рітвельда, застосовуючи програму FullProf.

2.4.2. Електронно-мікроскопічні та спектральні дослідження

Мікроструктуру поверхневих шарів вивчали за допомогою скануючих

електронних мікроскопів FEI Quanta 3D FEGSEM, інтегрованого з системою