Page 94 - Докторська дисертація_Ткачук
P. 94
94
проводили за допомогою Bruker D2 Phaser (CuKα1,2 випромінювання),
оснащеного детектором X-flash.
Мікрораманівські спектри були отримані за допомогою спектрометра
InVia Raman, оснащеного оптичним мікроскопом Leica. Джерелом збудження
був NeHe–лазер з довжиною хвилі 633 нм з вихідною потужністю 14 мВт у
геометрії зворотного розсіювання. Мікрораманівські спектри одержували у
-1
діапазоні 100–1100 см . Параметри піків визначалися за допомогою
програмного забезпечення Renishaw Wire вер. 3.4.
Дослідження модифікованих поверхневих шарів проводили за
допомогою рентгенівської фотоелектронної спектроскопії (РФЕС) з
використанням спектрометра PHI XPS Versaprobe 5000.
2.4.3. Профілометричні та тензіометричні дослідження
Параметри шорсткості поверхні (Ra, Rq, Rv, Rp, Rt, Rku, Rz) та 3D-
топографії отримували за допомогою безконтактного тривимірного
інтерференційного профілометра Micron-alpha. Також використовували
профілометр типу 170621 для визначення середнього арифметичного
відхилення профілю Ra.
Контактні кути змочування вимірювали за допомогою оптичного
тензіометра Attension Theta Flex (рис. 2.12). Дані про контактний кут
використовували для визначення змочуваності поверхні:
L∙cosSSL, (2.2)
де – крайовий кут змочування;S та L – поверхневі натяги твердого тіла та
рідини, відповідно; SL – міжфазний натяг рідина/тверде тіло.
Для вимірювання змочуваності поверхонь та визначення вільної енергії
поверхні (ВЕП) використовували дистильовану воду та α-бромнафталін,
відповідно. Усі вимірювання виконували 5 разів, результати будь-яких

