Page 40 - дсрт

40
Якщо досліджувана поверхня вздовж траси сканування індентора

складається з твердих (і дрібних L2) і м‘яких (і великих L1) фрагментів,

обробивши трибограму (залежність глибини впровадження від часу τ) як ви-

падковий процес і побудувавши графік спектральної щільності, можна отри-

мати міцнісний портрет поверхні. За спектральною щільністю можна судити

про розміри, кількість і про міцність фрагментів на трасі сканування.

2.5. Методика фазового аналізу

Фазовий аналіз виконано на рентгенівському дифрактометрі BRUKER D8

DISCOVER (рис.2.7). Прилад має вертикальний гоніометр θ / θ-геометрії з

позиціями для кріплення рентгенівської трубки, оптики первинного пучка,

оптики відбитого пучка і детектора. Первинні і вторинні оптичні модулі,

детектори, платформи для зразків попередньо відкалібровані на заводі

виробника можуть легко замінюватися і розпізнаються системою.

Рис. 2.7. Загальний вигляд дифрактометра BRUKER D8 DISCOVER.

Технічні характеристики: мінімальний крок по кутах Theta і 2Theta:

0,0001; відтворюваність установки кутів Theta і 2Theta не гірше 0,0001; підвіска

зразка має моторизовані осі Chi, Phi, X, Y, Z; поворот по куту Chi в інтервалі

від -3 до + 93°. Поворот по куту Phi: 360°; вакуумний тримач зразків

обертається діаметром 125 мм.