Page 127 - Дисертація_Влад_Христина_Ігорівна

мікронапружень. Для врахування інструментального внеску в ширину

дифракційного піку (тобто розширення піку, спричиненого недосконалістю

апаратури), було використано формулу:

2
2
2
β = β + β (3.19)
m
i
β – виміряна ширина дифракційного піку для досліджуваної фази, β -
m
i
виміряна ширина дифракційного піку для комерційного стандарту LaB .
6
Аналіз уточнених значень δ та ε показав (табл. 3.17), що вклад
мікронапружень у розширення дифракційних піків є незначним порівняно з

вкладом розміру кристалітів. Середній розмір кристалітів фаз, синтезованих на

повітрі, був дещо більшим (24–55 нм) порівняно з фазами, синтезованими у

воді (22–29 нм). Саме це підтвердження, що розширення піків на X-променевих

порошкових дифрактограмах відноситься в основному до розміру кристалітів, а

не до мікронапружень в матеріалі, дозволило нам зробити висновок про

наноструктурований характер синтезованих матеріалів.

Порошки Ni/NiCo-w, отримані у воді, є суміш, що складається з 80% Ni

(NiCo) і 19% NiO (NiCoO). Порошки Co-w у воді піддаються майже повному

окисленню, утворюючи суміш з Co(OH) (67%), Co O (31%) і Co (2%). Усі
4
3
2
порошки, отримані на повітрі, містять оксиди відповідних металів MO зі

структурою типу NaCl: 92 % для Ni-a та 100 % для NiCo та Co.

a б

125