Page 11 - МІНІСТЕРСТВО ОСВІТИ І НАУКИ УКРАЇНИ
P. 11

9

                                                    Запропоновано  новий  адаптивний  метод
                                                 покращання        зображень,       що  базується         на
                                                 логарифмічній моделі представлення зображень.
                                                 Використання           комбінації        логарифмічних

                                                 мультиплікативних             операторів         дозволяє
                        Рисунок 1 ‒              підкреслити           низькоконтрастні             границі
                  Структурний елемент            фрагментів  зображення.  Через  вибір  значень
                     g морфологічного            параметра логарифмічної моделі  p  і адаптивного
                                                 параметра  k   можна  значно  покращувати  якість
                       перетворення.
                                                 зображень.
                                                       Задача локалізації та визначення параметрів
            дефектів  під  час  радіографічного  контролю  зварних  швів  є  важливою  для
            автоматизованого  аналізу  діагностичного  стану  зварних  металоконструкцій.
            Разом  зі  зварним  швом  просвічується  канавковий  еталон  чутливості  із
            заглибленнями,  що  імітують  дефекти  різної  глибини.  Щоб  обчислити
            характеристики дефектів, потрібно проаналізувати зображення еталона, оскільки
            його розміри, ширина і глибина канавок визначаються стандартом.















                                                  а)                 б)











                                                   в)               г)
               Рисунок 2 ‒ Зображення зварного шва (а) і гістограма розподілу його рівнів
             сірого (в) та результат застосування оператора поліпшення якості зображення з
             параметром k , обчисленим за формулою (7) для p=3 (б) і гістограма розподілу
                                                його рівнів сірого (г)

                   Проаналізувавши  контраст канавок, можна  обчислити  глибину  дефекту.
            Для  визначення  геометричних  параметрів  дефектів  потрібно  насамперед
            обчислити  їхню  нерізкість.  В  околі  краю  еталона  перепад  яскравості
            розтягується  на  деяку  відстань,  величину  якої  називають  нерізкістю  H.
            Нерізкість  спричинена  дією  фотоелектронів  і  відображених  електронів,
            звільнених  у  шарі  емульсії.  Зі  збільшенням  енергії  випромінювання  власна
   6   7   8   9   10   11   12   13   14   15   16