Page 28 - dysertaciyahrynenko

28

поверхню через процеси осадження частинок, індукованих електронним

променем або парою, до таких методів, як травлення або фрезерування.

Поєднання експериментів у СЕМ з технікою ЦКЗ є потужним

методом, який можна доповнити додатковими методами, такими як

дифракція зворотного розсіювання електронів, щоб оцінити утворення

локалізацій деформацій. Однак ЦКЗ у поєднанні з СЕМ-зображеннями має

деякі проблеми. Завдяки скануючому характеру СЕМ, записані

мікрофотографії СЕМ можуть давати значне спотворення зображення [33].

Залежно від часу перебування, збільшення та умов навантаження,

спотворення є більш чіткими. Декілька дослідницьких груп [47, 48]

опублікували процедури корекції спотворень, зокрема для конкретних

проблем кореляції переміщення з мікрофотографіями СЕМ.

1.2.2. Використання методу оптико-цифрової кореляції зображень

(ОЦКЗ). Цей оптичний метод ґрунтується на цифровій обробці за

відповідним алгоритмом ряду зображень поверхні зразка, отриманих за

відомих значень зусилля навантаження за допомогою фотокамери [49-55].

На кожному наступному зображенні по відношенню до попереднього

визначають переміщення поверхні в межах фрагмента, а віднісши величину

переміщення до розміру фрагмента, встановлюють значення деформації

(рис. 1.1).

Крім розподілу поля двох складових деформації εxx і εyy та визначення
переміщень будь-якої точки досліджуваної ділянки метод дає можливість

визначати деформацію на будь-якій базі в межах зображення за допомогою
спеціальних віртуальних екстензометрів, які можуть замінити механічні

екстензометри і тензорезистори, що є дуже актуальним, зокрема для
вимірювання видовження та звуження зразків при побудові діаграм

деформування.